2013年7月17日，第20届IEEE国际集成电路物理与失效分析会议(IPFA 2013)在苏州香格里拉大酒店隆重开幕，华碧检测作为IPFA大会合作伙伴到场祝贺并与前来参会的业界新老朋友一起共叙行业发展与深厚友谊。
IPFA2013大会由IEEE南京分会主办，IEEE Reliability/CPMT/ED新加坡分会、苏州市电子学会协办，由IEEE 电子器件协会与IEEE可靠性协会等提供技术支持，是在中国举办的有关集成电路与器件方面规模最大、影响最大的国际会议。
本届大会邀请了中国、美国、欧洲、新加坡、日本及亚太其他各国专家作大会报告和分会邀请报告，是国内外微电子领域的研究人员之间交流信息和了解国际、国内最新进展的一次极佳机会；华碧将携其失效分析研究与实践的最新成果与心得在本届大会上分享与交流。
华碧检测CEO刘学森先生（左一）与IPFA2013大会主席宋先忠先生（中）等贵宾合影
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